1. 2. 2課題研究的基本思路
1.深入分析各個(gè)誤差源,研究各種微電阻測(cè)試?yán)碚摵图夹g(shù),掌握各環(huán)節(jié)誤差的解決方法,結(jié)合實(shí)際情況開(kāi)發(fā)快速的高精度測(cè)量手段;
3.由于測(cè)量電阻的跨度比較大(0. O1mS}-1. 9999kSZ ),因此宜采用分段進(jìn)行測(cè)量,對(duì)電阻值測(cè)量分為5檔;
1. 2. 3課題研究的方法和基本內(nèi)容
2.分析和選擇各種微弱信號(hào)處理芯片、電路放大芯片和A/D轉(zhuǎn)換芯片,進(jìn)行電路圖的設(shè)計(jì)和繪制;
3. PCB板的繪制、制作及調(diào)試,特別是注重抗干擾設(shè)計(jì),以期達(dá)到精度要求;
4.熟悉嵌入式系統(tǒng)及芯片,用相應(yīng)的開(kāi)發(fā)工具和調(diào)試工具實(shí)現(xiàn)嵌入式程序的編寫(xiě)與仿真;
5.硬件與軟件系統(tǒng)的綜合調(diào)試,用對(duì)各種標(biāo)準(zhǔn)為電阻來(lái)檢驗(yàn)測(cè)試儀誤差,對(duì)其進(jìn)行調(diào)理以達(dá)到預(yù)期目的。
1. 2. 4課題研究的目標(biāo)及預(yù)期的效果
課題研究的目標(biāo)有:
本測(cè)試儀的設(shè)計(jì)目標(biāo)是設(shè)計(jì)制作完成高性?xún)r(jià)比、速度快、成本低、精度高、測(cè)量范圍廣、體積小重量輕的微電阻直流測(cè)試儀。由于市場(chǎng)對(duì)于微電阻測(cè)試儀寬量程的需要,委托我們進(jìn)行產(chǎn)品研發(fā)的廠家要求將測(cè)量范圍進(jìn)行適當(dāng)?shù)募訉挘虼吮緶y(cè)試儀的測(cè)量范圍確定為0. O1mS2-1. 9999kS2o
通過(guò)對(duì)電流、電壓信號(hào)的**采集、濾波、放大、補(bǔ)償、A/D以及利用單片機(jī)對(duì)測(cè)量獲得的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行存儲(chǔ)和顯示,達(dá)到快速測(cè)量微電阻的目的。深入分析并研究電路本身以及測(cè)量環(huán)境的外界各種干擾因素對(duì)測(cè)量的影響,以達(dá)到對(duì)微電阻的測(cè)量精度的要求。
課題研究的預(yù)期成果有:
1.電流、電壓信號(hào)的**采集、測(cè)量以及處理,并研究電路本身以及測(cè)量環(huán)境的外界電磁干擾對(duì)測(cè)量的影響,盡量減少測(cè)量誤差;
2.在嵌入式開(kāi)發(fā)工具上實(shí)現(xiàn)單片機(jī)C語(yǔ)言和匯編語(yǔ)言的編寫(xiě)、調(diào)試與仿真;
3.掌握高精度微弱信號(hào)的PCB板繪制、制作及調(diào)試。
本儀器的適用對(duì)象:各種線圈的電阻,開(kāi)關(guān)、插頭等儀器的接觸電阻,大截面導(dǎo)體電阻等。
測(cè)試儀的參數(shù):
測(cè)量范圍:
電阻測(cè)量范圍為:0. O1mS2-1. 9999kS2
電阻測(cè)量分為五個(gè)量程測(cè)試檔:
量程1: 0. O l mS2-19 9. 9 9mS2
量程2: 0. 1「mSZ-1. 999952
量程3 : 1 mS};-19. 9 9 9S2
量程4: 1 Om!2-199. 9952
量程5: 1 OOr15Z-1. 9999kSZ
測(cè)量誤差:
工作環(huán)境:溫度為。0C-400C,濕度為《90}RH
工作誤差:
量程1, 2誤差為:士0. 4%讀數(shù)值士4個(gè)字
量程3, 4, 5誤差為:士0. 2%讀數(shù)值土4個(gè)字
數(shù)據(jù)輸出:
*小分辨率:10 }S2
電阻測(cè)量值輸出:六位LED數(shù)碼管、RS232
測(cè)量速度:2次/秒
儀器使用方法:
開(kāi)機(jī)后預(yù)熱15分鐘;
選擇適當(dāng)?shù)牧砍?
儀器要先調(diào)零才能使用,調(diào)零時(shí)應(yīng)當(dāng)將測(cè)試夾短路。
1. 3本章小結(jié)
本章首先介紹了直流微電阻測(cè)試的背景和意義,再基于對(duì)該課題的現(xiàn)狀研究,提出了自己的研究思路、技術(shù)路線和目標(biāo),即設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)一個(gè)高精度直流微電阻測(cè)試儀。
本文接下去將在**章探討直流微電阻測(cè)量的理論基礎(chǔ),第三章介紹高精度直流電阻測(cè)試儀的硬件設(shè)計(jì),第四章描述高精度直流電阻測(cè)試儀的軟件計(jì),第五章則是整個(gè)系統(tǒng)調(diào)試的過(guò)程與結(jié)果的得出與分析,*后第六章則對(duì)本高精度直流測(cè)試儀的研究與開(kāi)發(fā)做了簡(jiǎn)要的總結(jié)和展望。