使用 HLC5501 回路電阻測(cè)試儀進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路直流電阻測(cè)試， 發(fā)現(xiàn)部分?jǐn)?shù)據(jù)雖然在規(guī)程要求范圍內(nèi)， 但與歷次數(shù)據(jù)比較差別較大， 懷疑為錯(cuò)誤數(shù)據(jù)。在排除了儀器接線錯(cuò)誤， 試驗(yàn)數(shù)據(jù)受現(xiàn)場(chǎng)感應(yīng)電壓干擾的影響， *終確定為電壓測(cè)試線接觸**或斷線造成的數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。當(dāng)電壓正極或負(fù)極其中任何一極出現(xiàn)接觸**或者斷開的情況， 所取到的電壓信號(hào)都不是被試品上實(shí)際的電壓降， 而是與鉗接電阻、儀器內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電阻構(gòu)成分壓關(guān)系的電壓降， 這個(gè)電壓降是隨機(jī)性的， 偏大或偏小， 甚至是沒有數(shù)值。通過加強(qiáng)斷路器導(dǎo)電回路直流電阻測(cè)試過程的**管控， 落實(shí)測(cè)試環(huán)節(jié)的精細(xì)管理， 使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。
1 斷路器導(dǎo)電回路電阻相關(guān)介紹
1． 1 斷路器導(dǎo)電回路電阻測(cè)試的意義斷路器導(dǎo)電回路接觸良好是保證斷路器**運(yùn)行的一個(gè)重要條件， 導(dǎo)電回路電阻增大， 將使觸頭發(fā)熱嚴(yán)重， 造成彈簧退火、觸頭周圍絕緣零件燒損， 當(dāng)回路電阻超標(biāo)切斷短路時(shí)， 造成斷路器故障。因此在工程交接、預(yù)防性試驗(yàn)中需要密切注意導(dǎo)電回路直流電阻的變化。
1． 2 測(cè)量?jī)x表
( 1) 若采用直流電壓降法測(cè)回路電阻， 則直流電源可選用電流大于 100 A 的蓄電池組; 分流器應(yīng)選用 100 A 的; 直流毫伏電壓表應(yīng)選用 0． 5級(jí)、多量程的 2 只; 測(cè)試導(dǎo)線應(yīng)選用截面為 16mm2 的銅線。
( 2) 若采用回路電阻測(cè)試儀法， 則回路電阻測(cè)試儀( 微歐電阻儀) 應(yīng)選擇測(cè)試電流大于 100 A的， 使接觸面上極薄的膜電阻擊穿， 使所測(cè)電阻值和實(shí)際電阻值相符合。本單位使用試驗(yàn)儀器為 HLC5501 型直阻測(cè)試儀。
1． 3 斷路器導(dǎo)電回路電阻測(cè)試結(jié)果的影響因素
( 1) 導(dǎo)電支架、導(dǎo)電桿的截面、材質(zhì)以及導(dǎo)電桿連接的固定方式、固定力矩、接觸面狀況;
( 2) 觸頭類型、接觸面狀況、觸頭壓力;
( 3) 試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)的電場(chǎng)干擾;
( 4) 測(cè)試鉗夾與斷路器接線端子排的接觸情況。大多數(shù)情況下斷路器的接線端子在長(zhǎng)期運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜， 當(dāng)回路電阻儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸**， 即電壓測(cè)試線鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻， 該接觸電阻值達(dá)到與測(cè)試儀電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí)， 將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。
1． 4 導(dǎo)電回路直流電阻值的分析判斷規(guī)程中對(duì)斷路器導(dǎo)電回路電阻數(shù)值未作規(guī)定， 因此大修和交接試驗(yàn)時(shí)， 導(dǎo)電回路電阻測(cè)試數(shù)值參照制造廠規(guī)定。運(yùn)行中一般不大于制造廠規(guī)定值的 120% 。測(cè)試結(jié)果除應(yīng)與制造廠規(guī)定值比較外， 還應(yīng)與歷次值相比較， 觀察其發(fā)展趨勢(shì)。根據(jù)設(shè)備的具體情況， 測(cè)試前應(yīng)將斷路器進(jìn)行幾次電動(dòng)分、合閘， 以消除觸頭表面金屬氧化膜的影響， 發(fā)現(xiàn)回路電阻增大時(shí)， 可采取分段測(cè)試， 以確定回路電阻增大的部位， 進(jìn)行處理。
2 加強(qiáng)導(dǎo)電回路直流電阻測(cè)試過程管理與數(shù)據(jù)分析的意義
2． 1 已往測(cè)試的不足目前斷路器直阻測(cè)試都是采用典型的四線制測(cè)量法， 在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)會(huì)由于電壓測(cè)試線接觸**或斷線， 出現(xiàn)錯(cuò)誤判斷甚至不能進(jìn)行測(cè)試的問題。當(dāng)試驗(yàn)數(shù)據(jù)明顯小于、高于出廠值或交接值， 但仍滿足規(guī)程要求時(shí)， 該綜合分析數(shù)據(jù)變化的原因。尤其對(duì)于變小的數(shù)據(jù)， 雖在規(guī)程要求范
圍內(nèi)， 但減小的原因可能是測(cè)試引線接觸**或出現(xiàn)斷線， 使得測(cè)試儀器測(cè)出的數(shù)值不是被試品的真實(shí)電阻， 從而產(chǎn)生了對(duì)設(shè)備情況的錯(cuò)誤判斷。
2． 2 方法提出的條件假設(shè)排除測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)強(qiáng)電場(chǎng)干擾。
2． 3 分析結(jié)果的可靠性保證在測(cè)試過程中， 嚴(yán)格控制作業(yè)流程， 密切注意歷次數(shù)據(jù)之間的變化情況， 綜合分析。某變電站 101、102、145 開關(guān)回路電阻的測(cè)試遇到的問題， 在加強(qiáng)管控， 注意到引線接觸情況后， *近的測(cè) 試 數(shù) 據(jù) 都 是 真 實(shí) 準(zhǔn) 確 的。 同 樣 在 使 用HLC5501 回路電阻測(cè)試儀測(cè)量電流互感器時(shí)也發(fā)現(xiàn)了引線接觸**的影響， 如測(cè)得一次電阻:524． 3 μΩ; 斷開電壓負(fù)極 13． 5 μΩ， 斷開電壓正極無數(shù)據(jù)。使用 HLC5501 回路電阻測(cè)試儀測(cè)量長(zhǎng)度 1 m 的六分鍍鋅管電阻: 1． 037 mΩ; 斷開電壓負(fù)極 17． 1 μΩ， 斷開電壓正極 0． 2 μΩ。
3 加強(qiáng)導(dǎo)電回路直流電阻測(cè)試過程管理
與數(shù)據(jù)分析的應(yīng)用情況以某站 101 開關(guān)為例說明。
2004 年 3 月 10 出廠值 A 相 36 μΩ， B 相 33μΩ， C 相 33 μΩ; 但從 2004 年 5 月 14 日至 2009年 4 月 14 之間所進(jìn)行的幾次試驗(yàn)結(jié)果雖然未超規(guī)程， 但是出現(xiàn)了偏大或偏小的情況， 此情況引起了注意， 經(jīng)分析查找， 在排除了儀器未接地， 試驗(yàn)數(shù)據(jù)受現(xiàn)場(chǎng)感應(yīng)電壓干擾的影響， *終確定為
HLC5501 回路電阻測(cè)試儀電壓信號(hào)引線接觸**造成的數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。
101 開 關(guān) 型 號(hào): COMPASS-145， 出 廠 編 號(hào):87353， 廠家: 云南開關(guān)廠 2004 年 3 月產(chǎn)品， 2004年 5 月投運(yùn)。
HLC5501 回路電阻測(cè)試儀原理說明:
HLC5501 回路電阻測(cè)試儀采用典型的四線制測(cè)量法， 用高頻開關(guān)電源產(chǎn)生大于 100 A 的直流測(cè)試電流， 施加于制造廠規(guī)定的被測(cè)體兩端，并測(cè)量電流流過被測(cè)體產(chǎn)生的壓降， 采樣電路同時(shí)對(duì)電壓輸入端和內(nèi)部電流分流器電壓進(jìn)行采樣， 取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大， 由 A /D 轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后， 再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理， 通過計(jì)算電壓值和電流值之比得出被測(cè)體的直流電阻值。
4 發(fā)展前景和建議
根據(jù)對(duì)以上問題的分析論證， 應(yīng)加強(qiáng)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)分析， 當(dāng)發(fā)現(xiàn)例行試驗(yàn)數(shù)據(jù)明顯小于出廠值時(shí)， 首先考慮是電壓引線接觸**造成的， 解決對(duì)策為: 處理接線部位接觸情況， 兩棵電壓線用螺絲緊固后測(cè)試。建議測(cè)試儀表廠家對(duì)電壓回路同電流回路一樣， 當(dāng)出現(xiàn)接觸**時(shí)具備提醒功能。
