產(chǎn)品資料

TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀

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產(chǎn)品名稱: TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商: 上海天皋電氣有限公司
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件,介質(zhì)材料,設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量儀器。采用大尺寸的液晶,人性化的菜單布局,使用戶可更方便的操作儀器。TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀該款儀器特別適用于電容測(cè)試系統(tǒng)。


TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀  的詳細(xì)介紹

TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀簡介:

TH2684型高精度絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件,介質(zhì)材料,設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量儀器。TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀采用大尺寸的液晶,人性化的菜單布局,使用戶可更方便的操作儀器。TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀該款儀器特別適用于電容測(cè)試系統(tǒng)??蓪?shí)現(xiàn)快速測(cè)試。為實(shí)現(xiàn)快速,TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀采取了如下措施,可選的輸入內(nèi)阻:大于10nA固定使用10k低輸入阻抗,小于10nA可選用1M內(nèi)阻測(cè)試電流。 TH2684具有內(nèi)置的雙電源支持大電容的充電:TH2684具有雙路高壓電源供給,在預(yù)充電階段支持輸出高達(dá)500V,200mA的電壓.并內(nèi)部支持電壓跟隨模式,并可在跟隨的基礎(chǔ)上微調(diào)電壓。保證容性材料的**充電。另外,TH2684可由用戶自行編程測(cè)試步驟,*多可達(dá)18步。例如可編程充電,等待,測(cè)試,放電等。每個(gè)步驟*長可持續(xù)100S。 TH2684 獨(dú)特的接觸檢查功能,對(duì)于電容和電纜等一樣的容性材料,接觸檢查功能能很好地判讀器件有沒接觸好,較少錯(cuò)誤測(cè)試的發(fā)生,另外接觸檢查不會(huì)增加任何測(cè)試時(shí)間。 TH2684標(biāo)配RS232,USBDEVICE,掃描口,Handler等接口。其中Handler接口為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了方便。掃描口,則為大量元器件的測(cè)試提供了方便,用戶可以配一臺(tái)掃描儀來加快元器件的測(cè)試。

TH2684 型高精度絕緣電阻測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)表:

產(chǎn)品型號(hào): TH2684
絕緣電阻測(cè)試儀
量程方式 自動(dòng), 保持
分選 四檔:(三檔合格,一檔不合格)
平均次數(shù) 1-100
電阻測(cè)試
范圍
精度
 10 kΩ– 50TΩ
 I > 100pA: 2%
I ≤ 100 pA: 精度基本等于電流測(cè)試的精度。
存儲(chǔ)器 可保存20組儀器設(shè)定值
工作溫度、濕度 10℃ - 40℃,≤ 90% RH
電源要求 90 – 130 V AC(60Hz) 或 198 -260V AC(50HZ)
功耗 250W
尺寸 43cm * 40cm * 13cm
重量 14kg
測(cè)試電壓
范圍
精度
源電阻
電流限制
開關(guān)
定時(shí)
可編程的測(cè)量延時(shí)
放電時(shí)間
 10 – 500V, 1V步進(jìn)
 2% ,或 ± 1V
 200Ω
 2,25,或200mA
 在前面板上手動(dòng)打開或關(guān)閉,或通過內(nèi)置的定時(shí)器控制,或遠(yuǎn)控
 可編程的快速充電時(shí)間:0 - 1000s
 0 -1000s
 t = 0.03 x Cx (in μF) ,電壓跌到測(cè)試電平的1%
測(cè)量電流
范圍
精度
 量程1 :10OuA – 1mA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程2 :10uA – 100uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ, 量程3 :1uA – 10uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程4 :100nA – 1uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ, 量程5 :10nA – 100nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程6 :1nA – 10nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ或 1MΩ (可選), 量程7 :10pA – 1nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ或 1MΩ(可選)
 2% ± 1pA
測(cè)試速度
觸發(fā)模式
連續(xù)模式
 一次測(cè)量: < 100ms(包括充電)
平均*多100次測(cè)量:<100 + (N-1) x 100 ms (包含充電)
 直接讀出: 100ms – 10000ms按照平均數(shù)
接口 GPIB, (選件)
RS232C,SCPI命令編程支持
HANDLER接口輸出,, USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support),
USBHOST(FAT16 and FAT32 ),
掃描接口

 

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