TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱: TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商: 上海天皋電氣有限公司
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
TH2684A型高精度絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件，介質(zhì)材料，設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量?jī)x器。TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀采用大尺寸的液晶，人性化的菜單布局，使用戶可更方便的操作儀器。TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀該款儀器特別適用于電容測(cè)試系統(tǒng)。
TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀特點(diǎn)：
320*240大屏幕的LCD顯示，讓...
高速測(cè)量： 100ms
針對(duì)容性器件的接觸檢查功能
超低漏電流測(cè)試：*低到10pA,精度...
在電流小于10nA時(shí)，可切換輸入內(nèi)阻...
7擋量程或自動(dòng)量程
可編程設(shè)置的順序測(cè)試模式
儀器參數(shù)自動(dòng)保存
通過(guò)U盤自動(dòng)升級(jí)系統(tǒng)固件
Handler接口用于可實(shí)現(xiàn)聯(lián)機(jī)操作...
支持掃描接口，為用戶的大批量測(cè)試提供...
強(qiáng)勁的充電功能
高測(cè)量精度：±2%至1TΩ
10kΩ – 100TΩ
10V - 1000V，單路輸出
充電電流：2 、 25 、 100m...
4個(gè)可編程限定的檔比較功能
配有電阻R – 時(shí)間T 或 電流I ...
屏幕信息快存于U盤 (COPY鍵)
中英文可選操作界面
RS232C、USB Device實(shí)...
TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀簡(jiǎn)要說(shuō)明
TH2684A型高精度絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件，介質(zhì)材料，設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量?jī)x器。TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀采用大尺寸的液晶，人性化的菜單布局，使用戶可更方便的操作儀器。TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀該款儀器特別適用于電容測(cè)試系統(tǒng)。 TH2684A可實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試。為實(shí)現(xiàn)快速，采取了如下措施， 1.可選的輸入內(nèi)阻：大于10nA固定使用10k低輸入阻抗，小于10nA可選用1M內(nèi)阻測(cè)試電流。 TH2684A充電階段支持輸出高達(dá)1000V,100mA, 能保證容性材料的快速充電。 TH2684A可由用戶自行編程測(cè)試步驟，*多可達(dá)18步。例如可編程充電，等待，測(cè)試，放電等。每個(gè)步驟*長(zhǎng)可持續(xù)100S。 TH2684A獨(dú)特的接觸檢查功能，對(duì)于電容和電纜等一樣的容性材料，接觸檢查功能能很好地判讀器件有沒(méi)接觸好，較少錯(cuò)誤測(cè)試的發(fā)生，另外接觸檢查不會(huì)增加任何測(cè)試時(shí)間。 TH2684標(biāo)配RS232,USBDEVICE,掃描口，Handler等接口。其中Handler接口為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了方便。掃描口，則為大量元器件的測(cè)試提供了方便，用戶可以配一臺(tái)掃描儀來(lái)加快元器件的測(cè)試。
TH2684A 高精度絕緣電阻測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)表：
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產(chǎn)品型號(hào)：
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TH2684A
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絕緣電阻測(cè)試儀
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量程方式
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自動(dòng), 保持
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分選
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四檔：（三檔合格，一檔不合格）
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平均次數(shù)
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1-100
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10 kΩ– 100TΩ
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I > 100pA: 2%
I ≤ 100 pA: 精度基本等于電流測(cè)試的精度。
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存儲(chǔ)器
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可保存20組儀器設(shè)定值
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測(cè)試電壓
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范圍
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精度
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源電阻
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電流限制
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開關(guān)
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定時(shí)
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可編程的測(cè)量延時(shí)
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放電時(shí)間
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10 – 1000V,1V步進(jìn)
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2% ，或 ± 1V
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200Ω
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2, 25 ,或100mA
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在前面板上手動(dòng)打開或關(guān)閉，或通過(guò)內(nèi)置的定時(shí)器控制，或遠(yuǎn)控
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可編程的快速充電時(shí)間：0 - 1000s
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0 -1000s
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t = 0.03 x Cx (in μF) ，電壓跌到測(cè)試電平的1%
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量程1 ：100uA – 1mA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程2 ：10uA – 100uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ, 量程3 ：1uA – 10uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程4 ：100nA – 1uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ, 量程5 ：10nA – 100nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程6 ：1nA – 10nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ或 1MΩ (可選), 量程7 ：10pA – 1nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ或 1MΩ（可選）
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2% ± 1pA
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一次測(cè)量: < 100ms(包括充電)
平均*多100次測(cè)量：<100 + (N-1) x 100 ms (包含充電)
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直接讀出： 100ms – 10000ms按照平均數(shù)
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接口
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GPIB, （選件）
RS232C,SCPI命令編程支持
HANDLER接口輸出，, USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support)，
USBHOST(FAT16 and FAT32 )，
掃描接口
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